AVX鉭電容和氧化鈮電容應用指南

為了在設計中能正確使用鉭電容和氧化鈮電容，我們必須充分考慮目標電路和設備的所有重要的電氣和物理條件。輸入參數通常需要提供電容值，這個(gè)值可以根據電源線(xiàn)濾波比、 大壓降等計算出來(lái)。正確選擇電容需要考慮的另一個(gè)重要參數是直流工作電壓。推薦電壓降額使用這個(gè)一般規則很重要，對所有鉭電容來(lái)說(shuō)降低幅度為50%，氧化鈮電容是20%，這意味著(zhù)鉭電容的工作電壓 為額定電壓Vr的一半，氧化鈮電容的工作電壓為其額定電壓的80%。遵守這個(gè)規則很重要，因為這樣做可以保護器件免受意外電流浪涌和過(guò)壓的傷害，而這種情況在汽車(chē)電路中很可能發(fā)生。然而，用于主輸出電路的鉭電容降額電壓與汽車(chē)電池線(xiàn)有很好的隔離，在過(guò)壓時(shí)具有保護作用，并具有緩慢加電模式(軟啟動(dòng)電路)，比如低功率DC/DC轉換器的輸出。在這種情況下，允許使用低至20%的降額幅度。工作溫度范圍告訴我們選擇電容時(shí)主要考慮 大溫度值，但也要認識到，當高溫超過(guò)85℃時(shí)我們必須使用額外的電壓溫度降額值。在實(shí)際溫度下電容允許的 大直流電壓被稱(chēng)為類(lèi)別電壓(額定電壓只是在室溫25℃情況時(shí)的其中一種類(lèi)別電壓值)。 如果正常工作溫度超過(guò)85℃，那么工作降額與溫度降額應結合起來(lái)考慮。例如，在可能出現浪涌和電壓尖峰的電路中 工作溫度達125℃的鉭電容：工作降額為50%，即電壓 為額定電壓Vr的50%，125℃時(shí)( 壞情況下)的溫度降額為33%，即電壓 大值是Vr的66%。兩者結合后為0.5×0.66=0.33，這意味著(zhù)鉭電容可以在 大為額定電壓Vr的33%的電壓下使用(針對 差工作條件)。 要想避免電容出現上電或啟動(dòng)電流過(guò)載，了解經(jīng)過(guò)電容的 大工作浪涌電流(單峰)很重要。這個(gè)電流可以根據電源內部電壓以及與待測電容串連的所有器件的內部電阻(包括有效串聯(lián)電阻ESR)計算出來(lái)。工作 大浪涌電流應小于電容的 大允許浪涌電流Ipmax=(1.1×Vr)/(0.45+ESR)。在工作電流太高的情況下可以采取更大的降額幅度，因此選擇的額定電壓越高，電容的 大浪涌電流Ipmax也越大。 電容的 大紋波電流是流過(guò)電容的 大交流電流值，它有兩個(gè)主要的參數：有效值(rms,ACIrms,Ir)和頻率f。紋波電流受限于電容ESR上的電流產(chǎn)生的 大功耗Pd。電容體積越大，允許的功耗也越大，每種體積的功耗是常數。ESR越小，功耗就越小，允許的紋波電容也就越大。參見(jiàn)一般公式Pd=ESR×Ir×Ir。對有較高要求的紋波電流來(lái)說(shuō)，低ESR、大體積、可能多陽(yáng)極的結構是 選擇。

薄膜電容好壞檢測

方法一 1.將電容器與電源接通，如果接通的瞬間萬(wàn)用表的指針不擺動(dòng)，則說(shuō)明電容器失效或斷路。若表針一直指示電源電壓，但是卻不作擺動(dòng)，表明電容器已短路。若表針擺動(dòng)正常，但不返回零位，說(shuō)明電容器有漏電現象。因為所指示的電壓數值越高，表明漏電量越大。 2.薄膜精密晶片電阻，測量容量小的電容器所用的輔助直流電壓不能超過(guò)被測電容器的耐壓，以免因測量而造成電容器擊穿損壞。要想準確測量電容器的容量，需要采用電容電橋或Q表。上述的簡(jiǎn)易檢測方法，只能粗略判斷壓力表電容器的好壞。 3.容量大的固定電容器可用萬(wàn)用表的電阻檔（R×1000）測量電容器兩電極，看表針的擺動(dòng)情況，擺幅越大，表明電容器的電容量越大。若測試棒一直碰觸電容器引線(xiàn)，表針應指在∞附近，否則，表明該電容器有漏電現象，其電阻值越小，說(shuō)明漏電量越大，則電容器質(zhì)量越差。 4.在檢查電容器的好壞時(shí)，對耐壓較低的電解電容器，電阻檔應放在R×100或R×1K檔，把紅表筆接電容器的負端，黑表筆接正端，這時(shí)萬(wàn)用表指針將擺動(dòng)，然后恢復到零位或零位附近，這樣說(shuō)明電解電容器的質(zhì)量是合格的。電解電容器的容量越大，充電時(shí)間越長(cháng)，指針擺動(dòng)得也越慢。薄膜精密晶片電阻怎么判斷晶片電阻好壞如何判斷貼片電阻好壞 判斷貼片電阻的好壞有以下兩種情況： 種：用萬(wàn)用表在線(xiàn)測量法，電阻值大于標稱(chēng)值時(shí)，說(shuō)明元件有斷路性故障或電阻值變大，已經(jīng)損壞；所測阻值小于標稱(chēng)值時(shí)，要考慮到是外圍并聯(lián)元件對其造成的影響，應將元件一端或兩端脫開(kāi)電路進(jìn)行測量，以便得出確切的測量結果。 一旦儀器儀表中的長(cháng)方框架形線(xiàn)繞精密電阻損壞，可用與原電阻合金絲的材料、直徑、長(cháng)度均相同的新合金電阻絲均勻繞在原框架上代替。如果原長(cháng)方框架形線(xiàn)繞精密電阻只是表面絕緣層破損，只需將原電阻絲從框架上拆下，重新浸漆（宜選用性能優(yōu)、價(jià)格低的1260絕緣清漆），再經(jīng)晾干處理后重新繞到原長(cháng)方框架上即可。 第二種：外觀(guān)特征判斷法。 具體外觀(guān)特征判斷如下： 貼片電阻表面二次玻璃體保護膜應覆蓋完好，出現脫落，可能已經(jīng)損壞。 元件表面應該是平整的，若再現一些“凸凹”，可能損壞。 元件引出端電極一般應平整、無(wú)裂痕針孔、無(wú)變色現象，如果出現裂紋，則可能損壞。 貼片電阻體表面顏色燒黑，可能已經(jīng)損壞。 電阻體己經(jīng)變形，可能損壞。